高亮度鹵素光源設備YP-150I 照明YP-250I現貨
用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來
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特點】 1. 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia). |
| 2. 使用鹵素燈作為光源，色溫高達3400°K，照光和顏色均一了穩定強光的照射。 |
| 3. 由于冷鏡的使用，使得熱影響與常規鋁鏡相比較少1/2 到 1/3 |
| 4. 光束直徑由鏡片調整，30-50mm 之間調整 |
| 5. 底部開光，調整照明勘察器高度，操作簡便，可控制光量。 |
| 高亮度鹵素射鏡 |
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YP-150I | YP-250I |
| 照射范圍 | 30mmφ | 60mmφ |
| 照度 | ≥ 400,000 lｘ | ← |
| 照射距離 | 140mm | 220mm |
| 光源 | 鹵素燈(使用冷鏡) | ← |
| 燈型 | JCR15V150W | ELC24V250W |
| 壽命 | 50小時 | 35 小時 |
| 色溫 | 3,400K° | ← |
| 色調 | 白 | ← |
| 環境溫度 | 0～40℃ | ← |
| 冷卻方式 | 強制排氣 | ← |
| 連接 | 12φ | 20φ |
| 尺寸 | 100(W)×245(H)×116（D）mm | 120(W)×388(H)×130(D)mm |
| 重量 | 1.7 ㎏(17N) | 2.7 ㎏(27N) |
| 輸入電壓 | AC100V 50/60Hz | AC100V 50/60Hz |
| 功率 | 200W | 350W |
| 變化范圍 | AC5～12V | AC10～22V |
| 環境溫度 | 0～40℃ | ← |
| 冷卻方式 | 自然 | 強制排氣 |
| 尺寸 | 140(W)×94(H)×185(D)mm | 135(W)×72(H)×260(D)mm |
| 重量 | 2.4 ㎏ | 2 ㎏ |
| 其他 |
輸入電線 :2m VCTF-電線 0.75sq (外加一插座) 輸出電線 :2m VCTF-電線 1.25sq (外加一金屬連接器) 腳踏開關線:3m (底部金屬連接器) |
輸入電線 :2m VCTF-電線 0.75sq (外加一插座) 輸出電線 :2m VCTF-電線 1.25sq (外加一金屬連接器)<span none"=""> |
日本山田光學YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡
日本山田光學YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡
是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中費人工的成形制品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
概要
1. 可照明様品表面范囲于400.000Lx以上。
2. 因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
4. 二段切換構造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。
YP-150I???照度范囲 φ30
YP-250I???照度范囲 φ60
（YP-250I的通風機可選択螺旋式風扇或管道通風機形）
日本山田光學YP-150I/YP-250I YAMADA高照度鹵素強光燈
根據具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅
等半導體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等
1. 可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。
2. 因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。
3. 冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3
4. 二段切換構造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。
5. 型號：YP-150I照度范圍φ30 可對應檢查6寸半導體晶片
型號：YP-250I照度范圍φ60 可對應檢查8英寸半導體晶（通風機可選擇螺旋式風扇或者管道通風型）